|
ПРОГНОЗИРОВАНИЕ КАЧЕСТВА И НАДЕЖНОСТИ ИС СВЧ НА ЭТАПАХ РАЗРАБОТКИ И ПРОИЗВОДСТВАПРОГНОЗИРОВАНИЕ КАЧЕСТВА И НАДЕЖНОСТИ ИС СВЧ НА ЭТАПАХ РАЗРАБОТКИ И ПРОИЗВОДСТВА 
Описана конструкция и технология изготовления транзисторовGaN с длиной затвора 0,5мм и периферией 500 мкм и 1500 мкм. Представлены результаты измерения S-параметров и произведены сравнения с транзисторамиTGF2023-01 фирмы TriQuint Semiconductor 
Итого: 300.00руб. Купить Вы можете купить электронную версию издания «ПРОГНОЗИРОВАНИЕ КАЧЕСТВА И НАДЕЖНОСТИ ИС СВЧ НА ЭТАПАХ РАЗРАБОТКИ И ПРОИЗВОДСТВА». После оплаты (для архивов) оно будет доступно в Личном Кабинете в разделе «Электронные издания». В случае оформления подписки, издание будет доступно по мере поступления от издателя. Формат PDF/HTML. Стоимость — от 300.00 руб. |
