ИЗМЕРЕНИЕ S-ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ В ПОЛОСКОВЫХ ЛИНИЯХ ПЕРЕДАЧИ

Рассмотрены задачи, возникающие при измерении S-параметров микроэлектронных компонентов: определение параметров полосковой линии передачи, идентификация моделей полосковых калибровочных мер методом частотного окна и исключение влияния контактных устройств на результаты измерений в стандартном коаксиальном канале. Эффективность восстановления S-параметров электронных компонентов в широком диапазоне частот с помощью известных методов SOM, SOMT и TRL, используемых в практике СВЧ-измерений, сравнивается на примере чип-резистора.

Вы можете купить электронную версию издания «ИЗМЕРЕНИЕ S-ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ В ПОЛОСКОВЫХ ЛИНИЯХ ПЕРЕДАЧИ». После оплаты (для архивов) оно будет доступно в Личном Кабинете в разделе «Электронные издания». В случае оформления подписки, издание будет доступно по мере поступления от издателя. Формат PDF/HTML. Стоимость — от 150.00 руб.